- 纳米表征与调控研究进展/高瞻系列/中外物理学精品书系
- - 作者：编者:王荣明|责编:尹照原
  - 出版社：北京大学
  - ISBN：9787301283066
  - 出版日期：2017/05/01
  - 页数：665
- 售价：100

内容大纲
物质在纳米尺度下表现出的奇异现象和规律将改变相关理论的现有框架，使人们对物质世界的认识进入到崭新的阶段。在微/纳米尺度对样品进行测量、操控、加工，成为分析和构建新的纳米材料、结构和器件不可或缺的途径。在微、纳米尺度上利用“自下而上（bottom-up）”和“自上而下（top-down）”的微纳加工方法对微纳米材料、器件等进行微结构表征、操纵、控制、加工等，测量其力、热、光、电、磁等低维物理特性，开展相关基础理论、方法研究和设备改造、研制，对纳米科技的发展具有重要的意义。本书主要包括扫描电子显微学、透射电子显微学、聚焦离子束和电子束纳米加工技术、氢离子显微学等的基础理论，通过一些典型的应用介绍如何运用这些方法实施对材料及其结构的表征、加工等。
作者介绍
王荣明，北京科技大学教授，国家“百千万人才工程”入选者，被授予“有突出贡献中青年专家”荣誉称号，享受国务院政府特殊津贴。1991年和1994年在北京大学获得理学学士和硕士学位，1997年在北京航空材料研究院获得工学博士学位。2004～2005年在美国加州大学伯克利分校劳伦斯国家实验室做访问学者，2005～2015年在北京航空航天大学物理学院任教授。2014～2018年任北京科技大学数理学院院长，现任北京科技大学融合创新研究院常务副院长、磁光电复合材料与界面科学北京市重点实验室主任、北京材料基因工程高精尖创新中心团队负责人。兼任英国物理学会学术期刊JPhys D：Appl Phys杂志的Section Editor, Prog Nat Sci-Mater, /OP SciNotes等9个学术期刊编委，以及中国材料研究学会常务理事等。长期从事先进材料的界面精细结构设计、调控、表征和物理性质研究。承担科技部、国家自然科学基金委、教育部、北京市的各类科研项目20余项。提出了一种定量、原位表征复杂体系材料三维原子结构的方法，发展了磁性金属-贵金属纳米颗粒的可控制备方法，开展了磁、光功能材料在能源等领域的应用研究。在包括Nat Catal, Phys Rev Lett, Adv Mater, Angew Chem Int Edit, Nano Lett, Nano Energy等刊物上发表SCI学术论文200余篇，被引用超过10000次，H因子53；已出版学术著作4部；在国际、全国学术会议上做大会报告、Keynote报告和Invited报告60余次。曾获国家自然科学奖二等奖、教育部自然科学奖一等奖、中国材料研究学会科学技术奖一等奖、茅以升北京青年科技奖、北京市优秀博士学位论文指导教师、“中国发明创业奖·人物奖”、“科学中国人（2012）年度人物”等奖项和荣誉。
目录
1  Electron / Ion Optics
  1.1  General ray diagram of TEM
  1.2  Electron sources
  1.3  Optics
  1.4  Detectors
  1.5  Ion optics
2  Scanning Electron Microscopy
  2.1  Introduction
  2.2  Fundamentals of the SEM
  2.3  Analytical capabilities of the SEM
3  Transmission Electron Microscopy
  3.1  Introduction
  3.2  High-resolution transmission electron microscopy imaging
  3.3  A new approach to image analysis in HRTEM
  3.4  Focal series reconstruction
  3.5  Convergent beam electron di raction
  3.6  Lorentz electron microscopy
  3.7  Electron holography
4  Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
  4.1  Introduction
  4.2  The Principle of reciprocity
  4.3  Principle of STEM imaging
  4.4  HAADF imaging
  4.5  ABF imaging
  4.6  Scanning Moir e fringe imaging
  4.7  Application on micro-area analysis
  4.8  Discussion and conclusion
5  Spectroscopy
  5.1  Introduction
  5.2  Principle of EDS and EELS
  5.3  EDS+TEM and EDS+STEM
  5.4  EELS-TEM
  5.5  EELS-STEM and applications
  5.6  Spectrum imaging
6  Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy and Its Applications
  6.1  Basics of aberration correction
  6.2  Aberration corrected electron microscopy
  6.3  Applications of aberration corrected electron microscopy
7  In Situ TEM: Theory and Applications
  7.1  In situ TEM observation of deformation-induced structural evolution at atomic resolution for strained materials
  7.2  In situ TEM investigations on Ga/In ˉlled nanotubes
  7.3  In situ TEM electrical measurements
  7.4  Several advanced electron microscopy methods and their applications on materials science
8  Helium Ion Microscopy
  8.1  Introduction
  8.2  Principles
  8.3  Imaging techniques
  8.4  Applications
  8.5  Current / Future developments
  8.6  Conclusion

内容大纲

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