- 集成电路测试技术与实践(普通高等教育集成电路领域新形态教材)
- - 作者：编者:刘晋东//张弘//娄永乐//管连//王军等|责编:秦菲//管娜
  - 出版社：机械工业
  - ISBN：9787111787457
  - 出版日期：2025/09/01
  - 页数：224
- 售价：23.6

内容大纲
    本书聚焦集成电路测试领域，系统且全面地阐述了相关理论、技术与实践应用，为集成电路相关专业学生及从业者提供了极具价值的知识体系。本书将理论知识与丰富的实际案例相结合，紧跟行业前沿技术，为读者提供了集成电路测试领域从基础到前沿、从理论到实践的全方位指导，是一本助力读者掌握集成电路测试技术、解决实际问题的实用教材。
    全书共6章，分别是绪论、集成电路测试技术基础、数字集成电路测试技术与实践、模拟集成电路测试技术与实践、数模混合集成电路测试技术与实践，以及其他典型电路测试技术与实践。本书内容具有较强的实践性，理论学习与实践相结合，在实践过程中，注重观察和思考，将理论知识应用到实际测试中，从而加深读者对知识的理解和记忆。
    本书可作为普通高等学校集成电路设计、集成电路技术、微电子技术、电子科学与技术等相关专业的实践课程教材，也可作为从事集成电路相关工作工程技术人员的参考书籍。
作者介绍
目录
第1章  绪论
  1.1  集成电路测试技术与实践教学的重要性
    1.1.1  我国集成电路产业发展需要更多的集成电路测试人才
    1.1.2  集成电路测试人才的知识和技能需要通过实践教学培养
  1.2  集成电路测试技术与实践课程体系
    1.2.1  集成电路测试技术与实践教学的目标
    1.2.2  集成电路测试技术与实践课程内容架构
  1.3  本集成电路测试实践教程的特色
    1.3.1  适合作为集成电路测试技术初学者的入门教材
    1.3.2  兼顾研发测试和量产测试的教学内容设计
    1.3.3  匹配工程教育专业认证标准
    1.3.4  利用数字化和智能化技术手段赋能实践教学
  1.4  IECUBE-3839集成电路研发及量产测试通用平台
    1.4.1  当前集成电路测试实训室建设的痛点
    1.4.2  IECUBE-3839使用场景及功能特色
    1.4.3  IECUBE-3839数智化能力介绍
  1.5  IECUBE Online数智化平台
    1.5.1  IECUBE Online研发背景及功能概览
    1.5.2  IECUBE Online过程性实验和实践教学数据记录与评价
第2章  集成电路测试技术基础
  2.1  集成电路测试的基本概念
    2.1.1  集成电路测试的定义
    2.1.2  集成电路测试的基本原理
    2.1.3  集成电路测试的意义与作用
  2.2  集成电路测试的主要环节
    2.2.1  制定测试方案
    2.2.2  设计测试接口板
    2.2.3  开发测试程序
    2.2.4  分析测试数据
  2.3  集成电路测试的分类、行业现状及发展趋势
    2.3.1  集成电路测试的分类
    2.3.2  集成电路测试行业现状及发展趋势
  2.4  集成电路测试面临的挑战
    2.4.1  行业发展挑战
    2.4.2  测试技术挑战
  2.5  集成电路测试技术基础实践项目：74系列芯片测试
    2.5.1  74系列芯片测试技术概述
    2.5.2  实践项目概述
    2.5.3  任务1：理解74系列芯片测试参数及测试原理
    2.5.4  任务2：74系列芯片手动测试实践
    2.5.5  任务3：74系列芯片自动化测试实践
第3章  数字集成电路测试技术与实践
  3.1  数字集成电路测试技术概述
    3.1.1  数字集成电路测试中常见的芯片类型
    3.1.2  数字集成电路测试参数类型
    3.1.3  数字集成电路测试仪器
  3.2  数字集成电路测试技术实践项目：存储器芯片测试
    3.2.1  实践项目概述
    3.2.2  任务1：理解存储器测试参数及测试原理
    3.2.3  任务2：存储器手动测试实践

    3.2.4  任务3：存储器自动化测试实践
第4章  模拟集成电路测试技术与实践
  4.1  模拟集成电路测试技术概述
    4.1.1  模拟集成电路测试中常见的芯片类型
    4.1.2  模拟集成电路测试参数类型
    4.1.3  模拟集成电路测试仪器
  4.2  模拟集成电路测试技术实践项目：集成运算放大器芯片测试
    4.2.1  实践项目概述
    4.2.2  任务1：理解运算放大器测试参数及测试原理
    4.2.3  任务2：运算放大器手动测试实践
    4.2.4  任务3：运算放大器自动化测试实践
第5章  数模混合集成电路测试技术与实践
  5.1  数模混合集成电路测试技术概述
    5.1.1  数模混合集成电路测试中常见的芯片类型
    5.1.2  数模混合集成电路测试主要参数
    5.1.3  数模混合集成电路测试仪器
  5.2  数模混合集成电路测试技术实践项目：ADC芯片测试
    5.2.1  实践项目概述
    5.2.2  任务1：理解ADC芯片测试参数及测试原理
    5.2.3  任务2：ADC芯片手动测试实践
    5.2.4  任务3：ADC芯片自动化测试实践
第6章  其他典型电路测试技术与实践
  6.1  SoC测试技术概述及实践项目
    6.1.1  SoC芯片测试技术概述
    6.1.2  SoC芯片测试
  6.2  MEMS测试技术概述及实践项目
    6.2.1  MEMS芯片测试技术概述
    6.2.2  MEMS测试
  6.3  专用芯片测试技术概述及实践项目
    6.3.1  专用芯片测试技术概述
    6.3.2  电力专用计量芯片测试
  6.4  RFIC芯片测试技术概述及实践项目
    6.4.1  RFIC芯片测试技术概述
    6.4.2  RFIC芯片测试
附录
  附录A  实验报告及成绩考评要求
  附录B  IECUBE-3839测试接口板接口定义
  附录C  IECUBE-3839外接分选机、探针台等外设扩展接口定义
参考文献

内容大纲

作者介绍

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