- 透射电子显微学及技术应用/材料分析测试技术与应用系列/材料研究与应用丛书
- - 作者：编者:魏大庆//孟庆昌//孙良博//王庆宇|责编:王会丽//周一曈//马毓聪
  - 出版社：哈尔滨工业大学
  - ISBN：9787576723465
  - 出版日期：2026/03/01
  - 页数：414
- 售价：39.2

内容大纲
    透射电子显微分析技术广泛应用于材料科学等研究领域，是研究材料相变、形变、强化、表面改性、焊接等微观机理的重要分析方法。“透射电子显微学”是以透射电镜及其实验技术为基础的一门课程，其主要目的是培养学生利用透射电镜技术分析和解决有关材料问题的能力。通过本课程的学习，学生可理解电子衍射和薄晶体衍射成像的基本理论，掌握电子衍射技术测定晶体结构和晶体取向的方法原理及其应用。
    本书共23章，主要包括6个部分：第1～4章为第1部分，介绍材料、物理学及电镜结构等相关基础知识；第5～9章为第2部分，介绍各种电子衍射花样的形成、标定和分析，以及图像的衬度及应用；第10～12章为第3部分，介绍晶体缺陷分析；第13～16章为第4部分，介绍复杂衍射花样分析；第17章为第5部分，介绍高分辨电子显微分析；第18～23章为第6部分，介绍其他形貌、成分及衍射分析技术等。
    本书可作为材料学科的本科生和研究生教材，也可供材料科学、冶金、晶体学、金属物理等有关研究领域的科技人员及电镜工作者参考。
作者介绍
目录
第1章晶体学基础
  1.1 概述
  1.2 点阵与阵点
  1.3 晶体点阵
  1.4 晶胞
  1.5 晶体对称程度及对称要素
第2章散射与波衍射理论基础
  2.1 波的基本概念
  2.2 电子散射
  2.3 衍射与干涉
第3章透射电镜结构组成与工作原理
  3.1 概述
  3.2 透射电镜的结构原理与电磁透镜
  3.3 透射电镜的基本组成与附件及操作
  3.4 透射样品的常用制备方法
第4章倒易点阵
  4.1 概述
  4.2 倒易点阵与空间的构造
  4.3 倒易矢量基本定律
  4.4 倒易点阵与正点阵的关系——指数互换
  4.5 晶面间距、晶面夹角和晶向夹角的计算
第5章电子衍射基本原理
  5.1 概述
  5.2 布拉格衍射与电子衍射花样
  5.3 布拉格衍射与埃瓦尔德球及倒易点阵关系
  5.4 结构因子与倒易点阵类型
  5.5 倒易阵点的形状与偏离参量
第6章电子衍射花样的获取与标定
  6.1 概述
  6.2 单晶电子衍射图的几何特征
  6.3 晶带定律与零层倒易平面
  6.4 晶体电子衍射图的标定
第7章透射电镜形貌与衍射分析基本功能
  7.1 物质形貌观察功能
  7.2 衍射花样与结构分析功能
  7.3 衍射花样与取向分析功能
  7.4第二相分析功能
  7.5 其他分析应用功能
第8章电子显微镜图像衬度原理
  8.1 概述
  8.2 衬度类型
  8.3 明场像与暗场像
  8.4 运动学理论与基本假设
  8.5 电子衬度动力学理论过程
第9章菊池衍射图的分析及应用
  9.1 基本概念
  9.2 菊池线的产生
  9.3 菊池线的几何特征
  9.4 菊池线的标定
  9.5 菊池衍射图的应用

第10章位错与层错特征
  10.1 位错的基本结构特征
  10.2 层错的基本结构特征
  10.3 位错的特性
第11章层错与位错衍衬分析
  11.1 实验要求与条件
  11.2 位错的衍衬分析
  11.3 层错的衍衬及定量分析
第12章第二相粒子及界面分析
  12.1第二相粒子衬度
  12.2 多晶界面衍衬分析
  12.3 相界面及其他界面衍衬分析
第13章高阶劳厄区电子衍射图的分析及应用
  13.1 高阶劳厄带斑点的形成
  13.2 高阶劳厄带斑点的几何特征
  13.3 高阶劳厄带斑点指数的标定(垂直投影法)
  13.4 高阶劳厄带斑点的应用
第14章晶体复杂衍射花样特征
  14.1 概述
  14.2 超点阵斑点
  14.3 二次衍射斑点
  14.4 层错的衍射条纹
  14.5 长周期衍射花样
  14.6 卫星斑点
第15章孪晶电子衍射图的分析
  15.1 孪晶的晶体几何特征及倒易点阵
  15.2 二次旋转孪晶指数变换公式
  15.3 立方晶系孪晶电子衍射图的分析
第16章两相取向关系的测定
  16.1 概述
  16.2 两相取向关系的描述
  16.3 由两相合成电子衍射图直接确定两相的取向关系
  16.4 测定两相取向关系的矩阵方法
  16.5 测定两相取向关系的矩阵方法的应用
  16.6 测定两相取向关系应注意的问题
第17章高分辨成像技术及应用
  17.1 高分辨成像技术发展历程
  17.2 高分辨电子显微相位衬度像的成像原理及操作
  17.3 高分辨电子显微相位衬度像的影响因素
  17.4 高分辨像的计算机模拟技术
  17.5 高分辨电子显微术在材料科学中的应用
第18章系列倾转技术与迹线分析
  18.1 双倾操作及其等效转换
  18.2 相邻晶粒取向差的测定
  18.3 迹线分析法
第19章扫描透射电子显微镜分析
  19.1 STEM的发展和特点
  19.2 STEM的工作原理与结构
  19.3 高角度环形暗场像
  19.4 STEM的应用

第20章电子能量损失谱分析
  20.1 电子能量损失谱的基本原理
  20.2 电子能量损失谱仪的结构与工作原理
  20.3 电子能量损失谱特征
  20.4 EELS在材料分析中的应用
  20.5 能量过滤成像(EFI)
第21章会聚束电子衍射技术
  21.1 会聚束电子衍射的特征与形成原理
  21.2 会聚束电子衍射花样的获取及分析
  21.3 会聚束电子衍射的运用
第22章弱束暗场成像技术
  22.1 弱束暗场成像原理
  22.2 弱束像的类型及衍射几何关系
  22.3 弱束像的实验条件及操作
  22.4 弱束暗场技术在材料研究中的应用
第23章透射电子显微镜其他相关技术
  23.1 球差校正
  23.2 冷冻透射电镜
  23.3 四维超快透射电镜
  23.4 纳米束衍射
  23.5 原位加热与低温观察
  23.6 原位拉伸
附录Ⅰ 常用晶体学公式
  Ⅰ.1 立方点阵(Cubic Lattices)
  Ⅰ.2 六角点阵(Hexagonal Lattices)
  Ⅰ.3 四角点阵(Tetragonal Lattices)
  Ⅰ.4 正交点阵(Orthorhombic Lattices)
  Ⅰ.5 三角点阵(Trigonal Lattices)
  Ⅰ.6 单斜点阵(Monoclinic Lattices)
  Ⅰ.7 三斜点阵(Triclinic Lattices)
附录Ⅱ 常见晶体标准电子衍射花样
  Ⅱ.1 面心立方
  Ⅱ.2 体心立方
  Ⅱ.3 密排六方
  Ⅱ.4 金刚石立方
附录Ⅲ 立方晶体电子衍射图特征平行四边形表
  Ⅲ.1 体心立方晶体电子衍射图特征四边形表
  Ⅲ.2 面心立方晶体电子衍射图特征四边形表
参考文献

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