- 核辐射探测与测量(下)
- - 作者：编者:(美)格伦·诺尔|责编:陈隆隆|译者:袁国梁
  - 出版社：中国科大
  - ISBN：9787312065323
  - 出版日期：2026/04/01
  - 页数：494
- 售价：67.2

内容大纲
本书由美国密歇根大学核工程与放射科学专业荣休教授格伦·诺尔精心撰写，适合作为本科高年级及研究生阶段的核仪器或辐射测量课程的教材。全书从辐射源及其与物质相互作用的基本原理出发，系统地介绍各类辐射探测器的运行原理和基本特征，涵盖电离室、正比计数器、盖革－米勒计数器、闪烁探测器以及半导体探测器等主流探测器。内容不仅包括α粒子、β粒子、X/γ射线和中子的探测方法，还详细阐述了探测器输出信号的处理技术和相关电子学知识，帮助读者全面掌握辐射探测技术的各个方面。
作者介绍
格伦·诺尔是美国密歇根大学（University of Michigan）核工程与放射科学专业荣誉退休教授。他在凯斯理工学院（Case Institute of Technology）完成本科教育后，又相继获得了斯坦福大学（Stanford University）的硕士学位和密歇根大学的核工程博士学位。他于1962年加入密歇根大学，1979—1990年担任核工程系主任，1995—1996年担任工程学院临时院长，其主要研究方向为辐射测量、核仪器和辐射成像。他是200多篇技术出版物、7项专利和2本教科书的作者或合著者。格伦·弗雷德里克·诺尔被选为美国核学会（ANS）、电气与电子工程师学会（IEEE）和美国医学与生物工程学会的会员。他先后获得4项专业协会颁发的奖项：1979年美国工程教育学会的格伦墨菲奖（Glenn Murphy Award），1991年ANS的阿瑟霍利康普顿奖（Arthur Holly Compton Award），1996年IEEE的核与等离子体科学学会（NPSS）颁发的年度优秀奖（Annual Merit Award of the Nuclear and Plasma Sciences Society of IEEE）以及2007年IEEE 所属辐射仪器奖委员会颁发的杰出成就奖（Outstanding Achievement Award from the Radia-tion Instrumentation Awards Committee）。1995—2006年，他担任《核仪器和物理研究方法 A》的编辑，且是其编辑顾问委员会的成员。1999年，他当选美国国家工程院院士。2000年，他获得了密歇根大学工程学院的最高教师奖——Stephen E. Attwood奖。他曾担任辐射测量相关技术领域的35个工业和政府组织的顾问，是密歇根州的注册专业工程师。
目录
序
第11章  半导体二极管探测器
  11.1  半导体特性
  11.2  半导体中的电离辐射作用
  11.3  作为辐射探测器的半导体
  11.4  半导体探测器配置
  11.5  运行特性
  11.6  硅二极管探测器的应用
第12章  锗伽马射线探测器
  12.1  一般考虑因素
  12.2  锗探测器的结构
  12.3  锗探测器的工作特性
  12.4  用锗探测器进行伽马射线能谱分析
第13章  其他固态探测器
  13.1  锂漂移硅探测器
  13.2  硅或锗以外的半导体材料
  13.3  雪崩探测器
  13.4  光电导探测器
  13.5  位置敏感半导体探测器
第14章  慢中子探测方法
  14.1  中子探测中的核反应
  14.2  基于硼反应的探测器
  14.3  基于其他转换反应的探测器
  14.4  反应堆仪器设备
第15章  快中子探测和能谱学
  15.1  基于中子慢化的计数器
  15.2  基于快中子诱导反应的探测器
  15.3  利用快中子散射的探测器
第16章  脉冲处理
  16.1  脉冲处理概述
  16.2  设备阻抗
  16.3  同轴电缆
  16.4  线性脉冲和逻辑脉冲
  16.5  仪器标准
  16.6  脉冲处理单元总结
  16.7  专用集成电路(ASIC)
  16.8  许多应用中常见的组件
第17章  脉冲成形、计数和计时
  17.1  脉冲成形
  17.2  脉冲计数系统
  17.3  脉冲高度分析系统
  17.4  数字脉冲处理(ADC)
  17.5  涉及脉冲定时的系统
  17.6  脉冲形状甄别
第18章  多道脉冲分析
  18.1  单道方法
  18.2  一般多道分析仪特性
  18.3  多道分析仪
  18.4  能谱稳定和重定位
  18.5  谱分析

第19章  其他类型探测器
  19.1  切连科夫(Cherenkov)探测器
  19.2  自淬流线型充气探测器
  19.3  高压氙能谱仪
  19.4  液体电离和正比计数器
  19.5  低温探测器
  19.6  照相乳剂
  19.7  热释光剂量计和图像板
  19.8  径迹蚀刻探测器
  19.9  过热液滴或“气泡探测器”
  19.10  活化中子探测
  19.11  基于集成电路元件的检测方法
第20章  本底和探测器屏蔽
  20.1  本底来源
  20.2  伽马射线能谱中的本底
  20.3  其他探测器的本底
  20.4  屏蔽材料
  20.5  主动降低本底的方法
附录A  NIM、CAMAC和VME仪器标准
  A.1  核仪器模块(Nuclear Instrument Module,NIM)系统
  A.2  计算机自动测量和控制(CAMAC)标准
  A.3  VME总线标准
附录B  第3章样本方差表达式的推导
附录C  可变平均值下计数数据的统计行为
  C.1  广义泊松分布
  C.2  均值变化的多次测量的计数分布(“修正泊松分布”)
附录D  诱导电荷的Shockley-Ramo定理
  D.1  电势、电场和电荷载流子运动
  D.2  感应电荷
  D.3  示例:像素化探测器
译后记

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